分析装置

分析計メーカー 一覧

リガク・ホールディングス株式会社

70年以上、X線分析装置を中心とした最先端の分析・計測技術で物質材料研究・検査・開発のニーズにこたえてきた企業です。据置型をはじめ卓上型・携帯型の装置もあるため、様々な現場でお客様の分析に貢献できます。

パーキンエルマー合同会社

85年以上にわたり、環境・化学・食等の分野で研究に携わっている企業です。グローバルシェアNo.1の原子吸光分析装置をはじめ、光分析や熱分析装置のスタンダードモデルから、ハイスペックモデルまで、豊富なラインナップからお選びいただけます。


株式会社 日立ハイテク

日立グループの中核企業として、計測・分析装置等の分野で研究や開発・製造現場で貢献している企業です。お客様のニーズに合わせて装置とソフトの両面からサポート可能です。


取り扱いメーカー

(株)日立ハイテクサイエンス / ビーエルテック(株) / 日本電色(株)

X線回析装置

超コンパクトなデスクトップ機で、1次元/2次元検出器搭載可能により、高速/高強度測定を実現しました。

2次元検出器との組合せで配向や粗大粒の影響も一目瞭然です。

  • 高出力600W(設置環境に応じて送水装置内蔵・外置きを選択可能)
  • 試料自動交換装置など豊富なアタッチメント
  • 選べる本体カラー8色
  • 安全設計でX線作業主任者(日本)の選任不要

従来のシンチレーションカウンターと比較して約100倍の検出効率を実現した高性能検出器を標準装備。高速/高強度測定が標準で行えます。

検出器は、高速1次元検出器D/teX Ultra2または2次元検出器HyPix-400 MFから選択可能です。

X線回析装置資料

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PDFファイル 3.3 MB

PinAAcle500フレーム原子吸光分析装置

PinAAcle 500 はフレーム原子吸光分析の常識を覆す、最先端のエンジニアリング技術により設計されました。独自の光ファイバー光学系と半導体検出器の組合せにより光学的スループットを飛躍的に改善し、さらなる高感度分析が可能になりました。

 

また、操作性およびメンテナンス性を高めるため、人間工学に基づきデザインされた独自の設計思想により、これから初めて原子吸光を使用する分析者の方でもすぐに精確な分析が可能になりました。

光学的損失がほとんどなく、高感度測定が可能。地震等の振動による光学素子の位置がずれにくい設計リアルタイムダブルビームにより、ランプ強度の変化によるベースラインドリフトが起こりません。


透過電子顕微鏡

「RuliTEM」は、高コントラストを極めたレンズを搭載し広視野高コントラスト観察を実現するHT7800と、クラス最高レベルの分解能をもつ高分解能レンズを備えたHT7830をラインナップする120 kV透過電子顕微鏡です。新設計オペレーションで、ルーティンワークの対応も可能にする革新的な操作性を実現しました。

特徴

  • 日立独自の複合対物レンズにより、低倍率の広視野・高コントラスト観察から高分解能観察までをサポート
  • 明るい部屋でデジタル操作環境と各種オート機能により、初心者からエキスパートまでの操作をサポート
  • 新設計"Image Navigation"機能により、容易な視野探しと画像撮影が可能
  • フルオートのつなぎ写真作成やトモグラフィー、STEM、EDXなどの各種オプションを備え、さまざまな用途に対応
  • 高分解能レンズの選択で、低ダメージ・高コントラスト・高分解能観察を実現し、in situ観察にも対応


示差走査熱量計DSCvesta2

試料を加熱または冷却したときに試料内に発生する熱エネルギーの変化を検出する熱分析装置です。DSCとは、試料を一定の温度プログラムに従って加熱または冷却した時に、試料内に発生する熱エネルギーの変化を測定する技法です。融解、結晶化、結晶転移、ガラス転移などの反応温度や反応エネルギー量を調べる際によく利用される分析装置です。

 

リガクのDSCは業界最高クラスの測定温度範囲を実現する各種冷却ユニットや、試料観察をはじめ様々なアタッチメントを搭載することで、測定の拡張性・温度範囲・安全性がより向上します。これにより従来の測定では判別が難しい現象でも多面的にデータを得ることができるようになり、より幅広い分野での材料分析にお使いいただけます。


Spotlight Aurora 赤外顕微システム

Spotlightは高品質の結果を誰でも簡単に、かつ、迅速に得られるように設計された最先端の赤外顕微鏡です。

最新のソフトウェアと最先端のハードウェアの融合により、様々な測定に威力を発揮します。

  • 広角カメラと詳細カメラを同時搭載したデュアルカメラシステムを採用しました。
  • 観察視野に素早くアクセスできます。
  • 顕微IRに深度合成機能を搭載しました。凹凸のある試料も美しい可視画像が得られます。
  • 明視野観察に加えて暗視野観察に対応しました。

レーザー回折・散乱式による粒子径分布の測定結果と、動的画像解析式による粒子形状の解析結果を約1分で得られます。2つの測定手法で同一箇所を同時に測定することにより、水に溶けやすい試料や電池材料など高濃度の試料をより詳細に解析することが可能です。

 

また、粒子径分布と粒子形状を異なる装置で測定されていたお客様は、測定時間を最大50%削減でき、研究開発や品質管理の効率化と省スペース化に貢献します。



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